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SDD (Silicon Drift Detector) 大面積高分解能 半導体X線検出器 |
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特 徴 *結晶有効面積100mm2、優れたエネルギー分解能 *高計数率対応 106cps以上 *液体窒素不要(電子冷却) エネルギー分解能 |
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高計数対応の時、例えばX線回折やEXAFS測定に使用される時のエネルギー分解能を示します。 この場合は分解能よりむしろ計数率が要求されますので、ピーキングタイムを短くし、数え落しを少なくして測定に使用します。55Feを用いてピーキングタイム0.25μsの高計数率測定時のプロファイルを示します。 | 高分解能対応の時、例えば蛍光X線測定に使用される時のエネルギー分解能を示します。この場合は計数率よりむしろ分解能が要求されますので、ピーキングタイムを長くし、数え落しを起さない範囲の計数率(〜20万cps)で使用します。 55Feを用いてピーキングタイム6μsの高分解能測定時のプロファイルを示します | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
用 途 *蛍光X線分析、微小部蛍光X線分析 *全反射蛍光X線分析 *X線回折、EXAFS分析 *放射光を用いた基礎実験、応用研究 *電子顕微鏡エネルギー分散分析 *プロセスコントロール |
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(Mn-Kα線 5.9keV ,FWHM、結晶厚:350μm) Peaking time μs Typical eV Guaranteed eV 12 <133 ≦145 4 <145 ≦155 1 <162 ≦175 |
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