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SDD (Silicon Drift Detector)
大面積高分解能 半導体X線検出器

特 徴
*結晶有効面積100mm2、優れたエネルギー分解能
*高計数率対応 106cps以上
*液体窒素不要(電子冷却)

エネルギー分解能

高計数対応の時、例えばX線回折やEXAFS測定に使用される時のエネルギー分解能を示します。 この場合は分解能よりむしろ計数率が要求されますので、ピーキングタイムを短くし、数え落しを少なくして測定に使用します。55Feを用いてピーキングタイム0.25μsの高計数率測定時のプロファイルを示します。 高分解能対応の時、例えば蛍光X線測定に使用される時のエネルギー分解能を示します。この場合は計数率よりむしろ分解能が要求されますので、ピーキングタイムを長くし、数え落しを起さない範囲の計数率(〜20万cps)で使用します。 55Feを用いてピーキングタイム6μsの高分解能測定時のプロファイルを示します
用 途
*蛍光X線分析、微小部蛍光X線分析
*全反射蛍光X線分析
*X線回折、EXAFS分析
*放射光を用いた基礎実験、応用研究
*電子顕微鏡エネルギー分散分析
*プロセスコントロール
(Mn-Kα線 5.9keV ,FWHM、結晶厚:350μm)
Peaking time μs Typical eV Guaranteed eV
12 <133 ≦145
4 <145 ≦155
1 <162 ≦175
仕様  
 
検出器  
  SDD     
結晶材質 シリコン  
結晶有効面積 100mm2  
結晶厚み 450μm  
窓材質、厚み Be 8μm  
冷却温度 2段ペルチェ素子−30℃  
プリアンプ 型式:Charge sensitive, 2mV/keV シグナル:正極性 リセット:Electrical,
1μs以内
 
冷却 ペルチェ冷却  
電力  12V 2.5A  
重量 500g(プリアンプ部含む)  
寸法(プローブ部) 152L x 63H x 56W mm  
 
デジタルシグナルプロセッサー  
  内容  
チャンネル 1024, 2048, 4096, 8192 ch  
チャンネルサイズ 10, 20, 40 eV  
デッドタイム補正 -0.5%より良好。4μs peaking timeで、0〜120,000cpsまで精度良く補正  
プリセットタイム 2,147sec  
ゲイン 可変  
周波数 16MHz  
ピーキングタイム (0.375,0.563,0.750,1.125,1.5μs)  
  or (1.5,2.25,3.0,4.5,6.0μs)  
  の組から選択  
インターフェース USB1.1